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米FCC、中国ラボによる電子機器テストの禁止提案を全会一致で可決

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米国連邦通信委員会(FCC)は、中国国内のラボがスマートフォンやカメラ、コンピュータなどの電子機器を米国市場向けにテストすることを禁止する提案を、全会一致で可決した。

現在、米国で使用される電子機器の約75%が中国国内でテストされているとされる。FCCはこうした依存構造を見直すため、テスト認可プロセスの合理化に着手する方針を示した。具体的には、米国内のラボ、または国家安全保障上のリスクが低いと判断される国のラボでテストされた機器について、審査を簡素化する新たな承認制度の導入を計画している。

この決定は、トランプ政権が推進してきた対中テック産業規制の流れに沿うものとみられる。FCCは同日、関連する別の提案についても3対0の投票で可決しており、中国由来の技術に対する規制強化を包括的に進める姿勢を鮮明にした。

背景には、米国のサプライチェーンが中国のテスト基盤に大きく依存している現状がある。今回の措置は、こうした依存からの脱却を図り、国家安全保障の強化につなげる狙いがあるとされている。新制度の詳細や施行時期については、今後パブリックコメントを経て決定される見通しである。